名稱 穿透式電子顯微鏡(TEM)
副標題 基本功能是一般放大成像，觀察一般材料試片形貌外，更深入的研究材料在於操作明、暗場像及繞射圖譜相互之切換時，影像方位不變。明、暗場像可以分析材料結構及缺陷，例如結晶相分布、晶粒分布、晶粒大小、多層鍍膜厚度、缺陷型態、缺陷位置、缺陷定量等；繞射圖譜可以判定材料成相，例如單晶、多晶及非晶質、晶向、晶面。 廠牌 : JEOL 型號 : JEM-2010 加速電壓: 120~200KV 電子槍型式: LaB6型式 放大倍率: 25~600,000倍 點解析度： 0.35nm 格子解析度： 0.14nm
編號 穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-2000FX)
可供預約 No
Purchase Date 2008-10-24
管理人 許薰丰,薛涵宇
管理人聯絡電話 04-22840500-702,504
位置 MB-14