名稱 垂直面低掠角X光繞儀 (In-plane GID XRD)
副標題 垂直面低掠角X光繞射儀(In-plane GID XRD)是研究各式材料晶體結構所不可或缺的利器。藉由X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化，為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備，本系統加載變溫裝置系統，可提供使用者更多樣的服務。
主要配件:
1.多功能測量附件:可進行薄膜低略角繞射測試、反射率測試、高解析繞射。
2. ICDD PDF2 資料庫比對。
3. Rotary Absorber 四階自動強度衰減器。
4.旋轉樣品台：開放式尤拉環安裝在測角儀上可讓樣品自動地實現七個自由度的動作。
5.40mm Goebel Mirror可抑制Kβ, 白光及螢光之高階光學反射鏡。
6.4-bounce monochromator Ge022四晶單色光器。
7.樣品座變溫套件。
說明 http://research.nchu.edu.tw/unit-news-detail/id/63/unit/9/mid/83#HR-XRD
編號 國科會貴重儀器 (BRUKER D8 Discover)
可供預約 No
Purchase Date 2013-01-18
管理人 吳宗明,陳二強
管理人聯絡電話 04-22840234-119
位置 應用科技大樓