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名稱 | 場發射穿透式電子顯微鏡 (FE-TEM) |
副標題 | 本儀器設備,電子發射源是場發射燈絲,因此具有極高空間及能量解析度,除了一般成像及繞射功能外,還可做對比極佳之高解析原子影像,因為其附加許多設備,成為材料分析的最佳利器。搭配能量散射光譜儀(EDS),為新一代SDD detector (LN2 free),具有80mm2 active area,energy Resolution≦129ev。影像輸出採用數位影像處理系統 (CCD),CCD畫素為2K×2K pixel。 |
說明 | http://research.nchu.edu.tw/unit-news-detail/id/63/unit/9/mid/83#FE-TEM3 |
編號 | 國科會貴重儀器 (JEOL JEM-2100F) |
可供預約 | No |
Purchase Date | 2013-01-15 |
管理人 | 薛富盛,盧志榮 |
管理人聯絡電話 | 04-22851356 |
位置 | 應用科技大樓一樓103室 |