名稱 高解析X光繞射儀 (HR-XRD)
副標題 高解析x光繞射儀(High resolution X-ray diffractometer , HRXRD)是研究各式材料晶體結構所不可或缺的利器。藉由高解析X光繞射儀可量測材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化，為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備。本儀器配備最新發展的2維偵測器VANTEC-2000，針對具有優選取向之結晶材料能提供比一般X-ray偵測器更精確的結果。 廠牌：BRUKER 型號：D8 SSS 靶材：旋轉陽極銅靶 輸出電壓：20 ~ 60kV。 輸出電流：10 ~ 300mA。 角度測量範圍 2θ： -10°~ +168° 主要配件 1.多功能測量附件:可進行極圖測試、殘留應力測試、 薄膜測試和texture。 2.薄膜分析附件。 3.小角散射附件。 4.旋轉樣品台：開放式尤拉環安裝在測角儀上可讓樣品自動地實現七個自由度的動作。 5.Pinhole 圓形光束套件 。 6.樣品雷射定位配件。 二維偵測器(VANTEC-2000 Area detector) 1.偵測區域有效面積︰ 14 cm x 14 cm 2.可使用波長︰Cr-Ka, to Cu-Ka 3.能量解析︰<25 % 4.可供操作模式︰2048 x 2048, 1024 x 1024, 512 x 512 channels 5.空間解析︰< 100 µm 6.最大總體計數︰106 c/s 7.最大局部計數︰3x103 c/s/pixel 8.背景雜訊︰< 5.0 x 10-4 c/s/mm2 9.作用氣體︰Xe-CO2
說明 http://research.nchu.edu.tw/unit-news-detail/id/63/unit/9/mid/83#HR-XRD
編號 國科會貴重儀器 (BRUKER D8 SSS)
可供預約 No
Purchase Date 2013-01-18
管理人 吳宗明,陳二強
管理人聯絡電話 04-22840234-119
位置 應用科技大樓