名稱 穿透式電子顯微鏡(TEM)
副標題 除了一般放大成像，觀察一般試片形貌外，在操作明、暗場像及繞射圖譜相互之切換時，影像方位不變。明、暗場像可以分析材料結構及缺陷，例如結晶相分布、晶粒分布、多層鍍膜厚度、缺陷型態、缺陷位置、缺陷定量等；繞射圖譜可以判定材料成相，例如單晶、多晶及非晶質。 廠牌 : JEOL 型號 : JEM-200CX 加速電壓: 80~200KV 電子槍型式: 熱鎢絲型式 放大倍率: 100~450,000倍 點解析度： 0.35nm 格子解析度： 0.14nm
說明 http://www.mse.nchu.edu.tw/download.php?filename=170_391e0238.doc&dir=archive&title=%E7%A9%BF%E9%80%8F%E5%BC%8F%E9%9B%BB%E5%AD%90%E9%A1%AF%E5%BE%AE%E9%8F%A1%28JEOL+JEM+200CX%29
編號 穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-200CX)
可供預約 No
Purchase Date 1983-06-30
管理人 許薰丰
管理人聯絡電話 04-22840500-192
位置 MB-12