![]() |
|
名稱 | 穿透式電子顯微鏡(TEM) |
副標題 | 基本功能是一般放大成像,觀察一般材料試片形貌外,更深入的研究材料在於操作明、暗場像及繞射圖譜相互之切換時,影像方位不變。明、暗場像可以分析材料結構及缺陷,例如結晶相分布、晶粒分布、晶粒大小、多層鍍膜厚度、缺陷型態、缺陷位置、缺陷定量等;繞射圖譜可以判定材料成相,例如單晶、多晶及非晶質、晶向、晶面。 廠牌 : JEOL 型號 : JEM-2010 加速電壓: 120~200KV 電子槍型式: LaB6型式 放大倍率: 25~600,000倍 點解析度: 0.35nm 格子解析度: 0.14nm |
編號 | 穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM-2000FX) |
可供預約 | No |
Purchase Date | 2008-10-24 |
管理人 | 許薰丰,薛涵宇 |
管理人聯絡電話 | 04-22840500-194 |
位置 | MB-14 |